树脂以达到均匀散热、绝缘和抗冲击的目的。达到B级绝缘,线圈散热更快。使用寿命是普通加热器的6-7倍。主机及感应线圈由304不锈钢加厚钢板包裹,免受外界因素的重压及磨损。全封闭式绝缘线圈,减去了线圈裸露
者可轻松地对重物实现各种要求的搬运、装配和特殊定位等工作,减轻劳动强度提高工作效率。气动葫芦是通过空气做驱动力,驱动马达带动内部机械部件达到提升重物的工作要求,因不需要电源驱动,所以具备防爆功能。2、
多功能冻盘碎肉机100型冻肉绞切机鲜骨架绞肉机简介绞肉机工作主要靠旋转的螺杆交料斗中的原料肉推挤到绞刀箱中的预切孔板处,利用转动的切刀刃和孔板上孔眼刃形成的剪切作用将肉切碎,并在螺杆挤压力的作用下,
磁阀,进行现场的排风、管道通气的处理,可上传消防主机、PLC、DCS系统。RBT-6000-ZLG型气体探测器是按照GB15322.1-2003、GB12358-2006设计的工业用可燃气体、有毒有
想替代产品二、YHY60(A)煤矿用本安型数字压力计技术指标:量程:0--60MPa精度:2.5%电源:3.6V重量:1.6Kg三、YHY60(A)煤矿用本安型数字压力计安装及使用说明1、安装将测压表
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J1000系列小型简易型变频器YASKAWA安川变频器VS-J1000系列从小巧精致的变频器感受高可靠性!简洁操作、简单设定是VSminiJ7系列的升级版.容量范围:单相100V:0.1~1.1kW
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侧装手轮气动执行器带手轮气动头ACHEM-IDMo紧急制动型气动执行器
换油提示功能可选配四、标准配置:a.立式主机b.防返油真空泵c.压盖干燥装置(样品盘3个)d.压盖型玻璃罩e.真空泵连接管五、可选配功能:1.共晶点测试装置2.上位机软件3.干燥终点判断4.进口真空
实验室进行加温。?3:50℃~70℃范围:夏季日照时间长,而且太阳辐射强度大,通常水平屋顶外表面的空气综合温度达到60~70℃,西墙面综合温度达到50~60℃,东墙面综合温度达到45~50℃,根据这一
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产品名称:C14(1-十四烯)【英文名称】1-TetradeceneCASno:1120-36-1【分子式】CH3-(CH2)11-CH=CH2【相对分子量】196.4应用本产品可用来生产各种马来酸酐共聚合物.本产品作为新型造纸施胶剂.本产品用作生产C14醇,烷基苯,α-烯烃磺酸盐,ADAM等表面活性剂产品,兼有很好的去污能力和生物降解性.本产品还用作生产香精香料,环氧化物,卤化物,烷基硅烷,金属有机化合物等等
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晶体管特性测试仪IV曲线图示仪概述:SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。基于模块化的体系结构设计,SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。详询18140663476;产品特点:30μV-1200V;1pA-100A宽量程测试能力;测量精度高,全量程下可达0.03%精度;内置标准器件测试程序,直接调用测试简便;自动实时参数提取,数据绘图、分析函数;在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;免费提供上位机软件及SCPI指令集;典型应用:纳米、柔性等材料特性分析;二极管;MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;第三代半导体材料/器件;有机OFET器件;LED、OLED、光电器件;半导体电阻式等传感器;EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管;电阻率系数和霍尔效应测量;太阳能电池;非易失性存储设备;失效分析;系统技术规格订货信息模块化构成:低压直流I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选-小电流分辨率10pA-四象限工作区间-支持二线,四线制测试模式-支持GUARD保护低压脉冲I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流、脉冲工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选,Z大脉冲电流10A或30A可选-小电流分辨率1pA-小脉宽200μs-四象限工作区间.-支持二线,四线制测试模式-支持GUARD保护高压I-V源测量单元-精度0.1%-Z大电压1200V,Z大直流100mA-小电流分辨率100pA-一、三象限工作区间-支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护高流I-V源测量单元-精度0.1%-直流、脉冲工作模式.-Z大电压100V,Z大直流30A,Z大脉冲电流100A-小电流分辨率10pA-小脉宽80μs-四象限工作区间支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护电压电容C-V测量单元-基本精度0.5%-测试频率10hZ~1MHz,可选配至10MHz-支持高压DC偏置,Z大偏置电压1200V-多功能AC性能测试,C-V、C-f、C-t硬件指标-IV测试半导体材料以及器件的参数表征,往往包括电特性参数测试。绝大多数半导体材料以及器件的参数测试,都包括电流-电压(I-V)测量。源测量单元(SMU),具有四象限,多量程,支持四线测量等功能,可用于输出与检测高精度、微弱电信号,是半导体|-V特性测试的重要工具之-。SPA-6100配置有多种不同规格的SMU,如低压直流SMU,低压脉冲SMU,大电流SMU。用户可根据测试需求灵活配置不同规格,以及不同数量的搭配,实现测试测试效率与开支的平衡。灵活可定制化的夹具方案针对市面上不同封装类型的半导体器件产品,普赛斯提供整套夹具解决方案。夹具具有低阻抗、安装简单、种类丰富等特点,可用于二极管、三极管、场效应晶体管、IGBT、SiCMOS、GaN等单管,模组类产品的测试;也可与探针台连接,实现晶圆级芯片测试。探针台连接示意图
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