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  • 全自动精子质量分析仪精子采集分析仪精子分析仪厂家
  • 精子分析是判断和评估男性生育能力基本和主要的检查方法,随着生殖医学的快速发展,要求对精液各项参数的客观测定及其标准化的共识亦日益增强。虽然世界卫生组织多次出版人类精液检验手册,旨在促进该项检查的规范化和标准化。但传统的人工精液分析方法。受到实验室条件和技术人员的经验等多种因素的影响,很难达到此目的。日前临床采用的人工精液分析方法,由于受到多种因素的影响,很难准确,客观的检测各项参数,尤其是精子的活率及活动的分析,很大程度上有赖于检查者的经验和主观判断,精液自动分析系统能有效的克服上述缺点,通过采用显微下摄像,精子自动检测分析系统计算机快速分析多个视野内精子运行轨迹和速度。通过北医大三院,中国人民解放军总医院,国家生殖中心等权威部门临床使用,认为:精子自动检测分析系统将现代计算机技术和先进的图象处理系统运用于精子质量的分析,研究结果表明,检测系统自身的重复性及不同放大倍数检测结果的一致性好。在临床检验中,它的精子密度,精子活率和A+B活力百分率参数与经典人工检测方法相比具有良好的相关性。值得一提的是,精液自动分析系统能实时记录3秒的精子运动轨迹,其运动轨迹图反映出精子的真实运动情况,为临检和科研人员的教学培训提供方便。分析系统的重复性好,可比性强,操作容易,减少了人工检测的误差,并且可以进行报告的打印,存储,查询,便于临床和科研的比较,分析,精子自动检测分析系统的应用,为临床和科研中精液常规分析的科学化,规范化和标准化创造了条件。精子分析医学影像工作站是一款自动化程度高、高智能化的精子质量分析系统,可以全面地检测精子的质量,同时也可以对畸形精子、各种病原微生物、血细胞等进行检测。能快速、准确、客观地检测精子的动、静态的各项参数指标,配以专业的病例管理功能,可打印精美直观的图文报告单。一、主要检测项目:1、精液其他成分-上皮细胞、红细胞、白细胞2、畸形精子数-头部畸形镜子数、尾部畸形精子数、体部畸形精子数、混合畸形精子数3、精子畸形率4、精子黏稠度5、精子外观6、精液量7、精子嗅味8、精子PH值二、自动检测项目:1、曲线运动-平均曲线运动速度、曲线运动精子总数、曲线运动活率。2、直线运动-平均直线运动速度、直线运动精子总数、直线运动活动精子总数、直线运动活率。3、平均路径运动-平均路径速度、平均路径精子总数、4、精子运动速度分级统计-a级快速前向活率,b级慢速前向活率,c级非前向运动率,d级极慢或不动率5、精子密度6、线速度7、精子侧摆幅值8、精子摆动性9、直线运动精子数10、精子鞭打频率11、直线运动率12、精子总数13、检测时间14、精子平均移动角

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  • C14(1-十四烯)
  • 2024-09-11 C14(1-十四烯)

    产品名称:C14(1-十四烯)【英文名称】1-TetradeceneCASno:1120-36-1【分子式】CH3-(CH2)11-CH=CH2【相对分子量】196.4应用本产品可用来生产各种马来酸酐共聚合物.本产品作为新型造纸施胶剂.本产品用作生产C14醇,烷基苯,α-烯烃磺酸盐,ADAM等表活性剂产品,兼有很好的去污能力和生物降解性.本产品还用作生产香精香料,环氧化物,卤化物,烷基硅烷,金属有机化合物等等

    [山东 济南市]

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  • 晶体管特性测试仪IV曲线图示仪
  • 晶体管特性测试仪IV曲线图示仪概述:SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。基于模块化的体系结构设计,SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。详询18140663476;产品特点:30μV-1200V;1pA-100A宽量程测试能力;测量精度高,全量程下可达0.03%精度;内置标准器件测试程序,直接调用测试简便;自动实时参数提取,数据绘图、分析函数;在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;免费提供上位机软件及SCPI指令集;典型应用:纳米、柔性等材料特性分析;二极管;MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;第三代半导体材料/器件;有机OFET器件;LED、OLED、光电器件;半导体电阻式等传感器;EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管;电阻率系数和霍尔效应测量;太阳能电池;非易失性存储设备;失效分析;系统技术规格订货信息模块化构成:低压直流I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选-小电流分辨率10pA-四象限工作区间-支持二线,四线制测试模式-支持GUARD保护低压脉冲I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流、脉冲工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选,Z大脉冲电流10A或30A可选-小电流分辨率1pA-小脉宽200μs-四象限工作区间.-支持二线,四线制测试模式-支持GUARD保护高压I-V源测量单元-精度0.1%-Z大电压1200V,Z大直流100mA-小电流分辨率100pA-一、三象限工作区间-支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护高流I-V源测量单元-精度0.1%-直流、脉冲工作模式.-Z大电压100V,Z大直流30A,Z大脉冲电流100A-小电流分辨率10pA-小脉宽80μs-四象限工作区间支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护电压电容C-V测量单元-基本精度0.5%-测试频率10hZ~1MHz,可选配至10MHz-支持高压DC偏置,Z大偏置电压1200V-多功能AC性能测试,C-V、C-f、C-t硬件指标-IV测试半导体材料以及器件的参数表征,往往包括电特性参数测试。绝大多数半导体材料以及器件的参数测试,都包括电流-电压(I-V)测量。源测量单元(SMU),具有四象限,多量程,支持四线测量等功能,可用于输出与检测高精度、微弱电信号,是半导体|-V特性测试的重要工具之-。SPA-6100配置有多种不同规格的SMU,如低压直流SMU,低压脉冲SMU,大电流SMU。用户可根据测试需求灵活配置不同规格,以及不同数量的搭配,实现测试测试效率与开支的平衡。灵活可定制化的夹具方案针对市上不同封装类型的半导体器件产品,普赛斯提供整套夹具解决方案。夹具具有低阻抗、安装简单、种类丰富等特点,可用于二极管、三极管、场效应晶体管、IGBT、SiCMOS、GaN等单管,模组类产品的测试;也可与探针台连接,实现晶圆级芯片测试。探针台连接示意图

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