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  • 广州减速带道路安装施工公司橡胶减速带生产厂家
  • 减速带作要作用:1,提示驾驶员按车道减速行驶,避驾驶员疲劳驾驶,并达到强制减速的目的,以提高车辆行驶。2,一般以黄和黑色引起视觉上的注意,使路面略呈拱形,达到车辆减速的目的。3,一般设置在公路交叉口,工矿企业,学校,居民小区等需要车辆减速的路段,容易造成交通事故,是用来减速机动车,非机动车行驶速度的新交通*安全设置。4,减速带在很大程度上减少了各种交通路线的发生,是一种新型的交通安全*设施,汽车在行驶中既有安全减速的目的,又有缓冲减速的目的,提高了交通道口的安全性。

  • 12-180
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  • 裙边隔板输送带挡边输送带河南橡胶挡边输送带
  • 裙边隔板输送带由基带、挡边、横隔板3部分组成。挡边起防止物料测滑撒落的作用。为了实现大倾角输送,采用T型TC型。档边和横隔板是用二次硫化的方法与基带连接的,具有很高的连接强度。为便于绕过滚筒,档边设计成波纹状;横隔板的作用是承托物料等。裙边隔板输送带基带的要求:(1)裙边隔板输送带的要求具有一定的抗拉强度和耐磨性。(2)对留有空边的波状挡边输送带,为了适应角度改向的要求,胶带的纵向要求有柔软性,横向则要求一定的刚性。(3)公司生产的波状挡边输送带采用特殊结构的横向刚性基带,解决了大规格输送带在回程过程塌带现象。裙边隔板输送带基带的结构:(1)基带是由上覆盖胶,下覆盖胶,带芯和横向刚性层四部组成。(2)上覆盖胶厚度一般为3-6mm;下覆盖胶厚度一般为1.5-4.5mm。(3)带芯材料承受拉力,其材料可以是棉帆布((4)为了增加基带的横向刚性,在芯体加入特殊加强层,称横向刚性层。(5)基带的宽度规格,与普通胶带相同,符合标准规定。裙边隔板输送带横隔板:炜泰生产的横隔板采用纤维复合材料制作而成,硬度大.挺性好.增加耐冲击性,避了隔板因受力而发生变形。在磨损较重的情况下,为维修方便,横隔板可做成锒嵌式,如TS和CS输送机倾斜角度小于40度时,横隔板用T型或TS型;倾斜角度大于40度时,横隔板用C型.TC型或TCS型。设计布置横隔板间距时,应该考虑与波状挡边的波峰相对应,间距采用波距的整数倍,以防止物料从二者缝隙中漏下和卸料时造成积料死角。我公司生产的波状挡边输送带,挡边.横隔板与基带的粘接采用二次低温热硫化粘接,粘接强度高,粘接牢固,平整.不掉板.不脱落。横隔板与波状挡边间用螺栓连接,增加了整体刚性和提高使用性能,解决了物料泄漏问题。

    [山东 青岛市]
  • 108
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  • 晶体管特性测试仪IV曲线图示仪
  • 晶体管特性测试仪IV曲线图示仪概述:SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。基于模块化的体系结构设计,SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。详询18140663476;产品特点:30μV-1200V;1pA-100A宽量程测试能力;测量精度高,全量程下可达0.03%精度;内置标准器件测试程序,直接调用测试简便;自动实时参数提取,数据绘图、分析函数;在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;费提供上位机软件及SCPI指令集;典型应用:纳米、柔性等材料特性分析;二极管;MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;第三代半导体材料/器件;有机OFET器件;LED、OLED、光电器件;半导体电阻式等传感器;EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管;电阻率系数和霍尔效应测量;太阳能电池;非易失性存储设备;失效分析;系统技术规格订货信息模块化构成:低压直流I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选-小电流分辨率10pA-四象限工作区间-支持二线,四线制测试模式-支持GUARD保护低压脉冲I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流、脉冲工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选,Z大脉冲电流10A或30A可选-小电流分辨率1pA-小脉宽200μs-四象限工作区间.-支持二线,四线制测试模式-支持GUARD保护高压I-V源测量单元-精度0.1%-Z大电压1200V,Z大直流100mA-小电流分辨率100pA-一、三象限工作区间-支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护高流I-V源测量单元-精度0.1%-直流、脉冲工作模式.-Z大电压100V,Z大直流30A,Z大脉冲电流100A-小电流分辨率10pA-小脉宽80μs-四象限工作区间支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护电压电容C-V测量单元-基本精度0.5%-测试频率10hZ~1MHz,可选配至10MHz-支持高压DC偏置,Z大偏置电压1200V-多功能AC性能测试,C-V、C-f、C-t硬件指标-IV测试半导体材料以及器件的参数表征,往往包括电特性参数测试。绝大多数半导体材料以及器件的参数测试,都包括电流-电压(I-V)测量。源测量单元(SMU),具有四象限,多量程,支持四线测量等功能,可用于输出与检测高精度、微弱电信号,是半导体|-V特性测试的重要工具之-。SPA-6100配置有多种不同规格的SMU,如低压直流SMU,低压脉冲SMU,大电流SMU。用户可根据测试需求灵活配置不同规格,以及不同数量的搭配,实现测试测试效率与开支的平衡。灵活可定制化的夹具方案针对市面上不同封装类型的半导体器件产品,普赛斯提供整套夹具解决方案。夹具具有低阻抗、安装简单、种类丰富等特点,可用于二极管、三极管、场效应晶体管、IGBT、SiCMOS、GaN等单管,模组类产品的测试;也可与探针台连接,实现晶圆级芯片测试。探针台连接示意图

  • 1000
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