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  • FN063-SDK.4I.V7P1施乐百精密空调室外风机FE063
  • 施乐百流风机是一种在工业生产、采矿、空调通风等领域中广泛使用的风机设备。该装置采用向流设计,在运行时能够高效地输送.气体、控制温度、降低压力等。基本结构施乐百流风机由导轮、转子、静叶片、热交换器和电机等部分组成。工作时,电机驱动转子旋转,导轮的存在可以使气体流进风机,然后经过转子和静叶片的作用,产生压力,终从风机的出口排出。在产生压力的同时,风机也会产生一定的流量。施乐百流风机的工艺流程主要包括:1.气体进入:气体通过风机入口进入。2.聚集与加速:气体经过导轮,被聚集和加速。3.加压:加速的气体在转子和静叶片的作用下,形成高速气流,进而增加气体压力。4.热交换:气体经过风机内的热交换器,调节温度和湿度等参数。5.排放:经过一系列过程后,气体终从风机出口处排放。流量和压力的关系施乐百流风机产生的流量和压力是相互制约的。在等速度转子状态下,当气体通过风机后,由于转子和静叶片的作用,气体会增加一定的动能,进而产生一定压力。当气体通过风机的流量增大时,其速度也相应增加,风机需要提供更多的扭矩来保证流量和压力的平衡。因此,流量和压力之间存在着一种相互制约的关系。向流特点舱房式的施乐百流风机采用内装式冷却器,适用于中小型空调系统和压缩机冷却。该装置具有以下特点:1.高效性:施乐百流风机能够提供高效的气体输送和压力控制。在流量和压力方面都有较大的优势。2.适应性:该装置适用于多种气体输送和压力控制的场合,能够满足各种不同的工艺需求。3.稳定性:施乐百流风机在运行时能够保持较高的稳定性和可靠性,长期使用效果更好。施乐百流风机是一种运行稳定、效率高的风机设备。在工业生产、采矿、空调通风等领域中有着广泛的应用。

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  • 晶体管特性测试仪IV曲线图示仪概述:SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。基于模块化的体系结构设计,SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。详询18140663476;产品特点:30μV-1200V;1pA-100A宽量程测试能力;测量精度高,全量程下可达0.03%精度;内置标准器件测试程序,直接调用测试简便;自动实时参数提取,数据绘图、分析函数;在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;免费提供上位机软件及SCPI指令集;典型应用:纳米、柔性等材料特性分析;二极管;MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;第三代半导体材料/器件;有机OFET器件;LED、OLED、光电器件;半导体电阻式等传感器;EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管;电阻率系数和霍尔效应测量;太阳能电池;非易失性存储设备;失效分析;系统技术规格订货信息模块化构成:低压直流I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选-小电流分辨率10pA-四象限工作区间-支持二线,四线制测试模式-支持GUARD保护低压脉冲I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流、脉冲工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选,Z大脉冲电流10A或30A可选-小电流分辨率1pA-小脉宽200μs-四象限工作区间.-支持二线,四线制测试模式-支持GUARD保护高压I-V源测量单元-精度0.1%-Z大电压1200V,Z大直流100mA-小电流分辨率100pA-一、三象限工作区间-支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护高流I-V源测量单元-精度0.1%-直流、脉冲工作模式.-Z大电压100V,Z大直流30A,Z大脉冲电流100A-小电流分辨率10pA-小脉宽80μs-四象限工作区间支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护电压电容C-V测量单元-基本精度0.5%-测试频率10hZ~1MHz,可选配至10MHz-支持高压DC偏置,Z大偏置电压1200V-多功能AC性能测试,C-V、C-f、C-t硬件指标-IV测试半导体材料以及器件的参数表征,往往包括电特性参数测试。绝大多数半导体材料以及器件的参数测试,都包括电流-电压(I-V)测量。源测量单元(SMU),具有四象限,多量程,支持四线测量等功能,可用于输出与检测高精度、微弱电信号,是半导体|-V特性测试的重要工具之-。SPA-6100配置有多种不同规格的SMU,如低压直流SMU,低压脉冲SMU,大电流SMU。用户可根据测试需求灵活配置不同规格,以及不同数量的搭配,实现测试测试效率与开支的平衡。灵活可定制化的夹具方案针对市面上不同封装类型的半导体器件产品,普赛斯提供整套夹具解决方案。夹具具有低阻抗、安装简单、种类丰富等特点,可用于二极管、三极管、场效应晶体管、IGBT、SiCMOS、GaN等单管,模组类产品的测试;也可与探针台连接,实现晶圆级芯片测试。探针台连接示意图

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