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  • 广州卓玄金微型电机转子双工位自动定位平衡机
  • YYQ-0.1DW卧式软支撑动定位平衡机·应用范围微电机转子,如汽车电机、家用小电器、微特电机、分马力电机、电动工具等轴类转子的批量平衡检测等转子的动平衡测试。·产品特点测量时无需标记,能实现高精度定位动跟踪数槽技术,不会因皮带打滑而引起定位误差Windows中文测量软件,可登陆100种规格,一次标定随时调用免贴反光标记B数据导出,N多种数据存储,灵活定位方式触摸屏显示器,一触即发,简单美观加重/去重可随意切换,使用方便动打标记系统(可选),同时也可显示左右定位角度差设备备有动诊断功能、维护方便·技术参数规格参数工件质量范围 (kg)0.1工件长度范围 (mm)100平均转数 (r/min)5000不平衡减少率 (%)95

  • 78000
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  • 广州无动力滚筒|冲压滚筒无动力滚筒|50|60|不锈钢|碳钢|镀锌|镀铬|PVC
  • 滚筒直径选择:25mm、32mm、38mm、42mm、50mm、57mm、60mm、76mm、80mm、89mm。滚筒材质选择:碳钢镀锌、碳钢镀铬、碳钢包胶、铝合金、不锈钢、ABS等。辊筒类型选择:无动力滚筒、单链滚筒、双链滚筒、“O”带滚筒、锥形滚筒、槽型滚筒、电动滚筒、包胶滚筒、堆积滚筒、多楔带滚筒、压花主轮。辊筒固定方式:弹簧压入式、内牙轴式、外牙轴式、全扁榫式、通轴销孔式、键槽。构形式:按驱动方式可分为动力滚筒线和无动力滚筒线,按布置形式可分为水平输送滚筒线、倾斜输送滚筒线和转弯滚筒线。还可按客户要求特殊设计,以满足各类客户的要求。标准规滚筒线内宽度为200、300、400、500、1200mm等。也可按客户需求采用其它特殊规格。转弯滚筒线标准转弯内半径为600、900、1200mm等,也可按客户需求采用其它特殊规格。直段滚筒所用的滚筒直径有38、50、60、76、89mm等。滚筒心轴标准为:8,10,12,15,20滚筒端盖安装方式:A-塑钢端盖;B-金属端盖+冲压式轴承;C-金属端盖+精密双面密封轴承;D-焊接车制端盖欢迎来电来样订做不锈钢滚筒,无动力滚筒,包胶滚筒,输送滚筒,滚筒梯.....我们有专业的工程师和设计师来电咨询:13710673586

  • 6.5
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  • 晶体管特性测试仪IV曲线图示仪
  • 晶体管特性测试仪IV曲线图示仪概述:SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。基于模块化的体系构设计,SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。详询18140663476;产品特点:30μV-1200V;1pA-100A宽量程测试能力;测量精度高,全量程下可达0.03%精度;内置标准器件测试程序,直接调用测试简便;自动实时参数提取,数据绘图、分析函数;在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;免费提供上位机软件及SCPI指令集;典型应用:纳米、柔性等材料特性分析;二极管;MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;第三代半导体材料/器件;有机OFET器件;LED、OLED、光电器件;半导体电阻式等传感器;EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管;电阻率系数和霍尔效应测量;太阳能电池;非易失性存储设备;失效分析;系统技术规格订货信息模块化构成:低压直流I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选-小电流分辨率10pA-四象限工作区间-支持二线,四线制测试模式-支持GUARD保护低压脉冲I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流、脉冲工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选,Z大脉冲电流10A或30A可选-小电流分辨率1pA-小脉宽200μs-四象限工作区间.-支持二线,四线制测试模式-支持GUARD保护高压I-V源测量单元-精度0.1%-Z大电压1200V,Z大直流100mA-小电流分辨率100pA-一、三象限工作区间-支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护高流I-V源测量单元-精度0.1%-直流、脉冲工作模式.-Z大电压100V,Z大直流30A,Z大脉冲电流100A-小电流分辨率10pA-小脉宽80μs-四象限工作区间支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护电压电容C-V测量单元-基本精度0.5%-测试频率10hZ~1MHz,可选配至10MHz-支持高压DC偏置,Z大偏置电压1200V-多功能AC性能测试,C-V、C-f、C-t硬件指标-IV测试半导体材料以及器件的参数表征,往往包括电特性参数测试。绝大多数半导体材料以及器件的参数测试,都包括电流-电压(I-V)测量。源测量单元(SMU),具有四象限,多量程,支持四线测量等功能,可用于输出与检测高精度、微弱电信号,是半导体|-V特性测试的重要工具之-。SPA-6100配置有多种不同规格的SMU,如低压直流SMU,低压脉冲SMU,大电流SMU。用户可根据测试需求灵活配置不同规格,以及不同数量的搭配,实现测试测试效率与开支的平衡。灵活可定制化的夹具方案针对市面上不同封装类型的半导体器件产品,普赛斯提供整套夹具解决方案。夹具具有低阻抗、安装简单、种类丰富等特点,可用于二极管、三极管、场效应晶体管、IGBT、SiCMOS、GaN等单管,模组类产品的测试;也可与探针台连接,实现晶圆级芯片测试。探针台连接示意图

  • 1000
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