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合金钢合金钢已有一百多年的历史了。工业上较多地使用合金钢材大约是在19世纪后半期。当时由于钢的生产量和使用量不断增大,机械制造业需要解决钢的加工切削问题,1868年英国人马希特(R.F.het)发明了
北京华康是塑料托盘的生产厂家,其中塑料托盘的类型有很多,为何九脚网格托盘如今那么受到热烈欢迎,那么它有什么优势,下面来给大家讲解一下。解析九脚网格托盘的优势关键看本身的净重和构造。从构造层面...
大极几字钢骨架的几字型结构稳固合理,大棚几字钢骨架的特点:1、独特的几字拱型檩结构,有效解决了温室内外温差造成的滴露现象可以有效地解决温室冬季的结露问题2、热镀锌板材质,耐腐蚀性好,寿命更长,正常使用
凸齿轮设计同步笔记本阻尼hinge转轴特点:适用于各类笔记本电脑、显示器翻转结构,安装便捷,易固定;转轴采用碗型弹片式结构,通过螺母松紧,扭力3.2±0.3kgf-cm可调节,具有通用性采用进口SK
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-2年的试验期,合金926基本上没有发生点腐蚀和缝隙腐蚀。926合金在其他的化学介质中也具有很好的抗腐蚀性,以及高温、高浓度介质,包括硫酸、磷酸、酸性气体、海水、盐和有机酸。926合金是位于柏林的德国
榆林12cr1mov高压合金弯头厚壁弯头厂家资讯12cr1mov合金弯头成形工艺是采用专用弯头推制机、芯模和加热装置,为了达到套在模具上的坯料在推制机的推动下向前运动,在运动中被加热、扩径和弯曲成形的
外环、外壁、涡流器、封严片等高温零部件。该合金对硅含量很敏感,硅可促使合金在760~925℃之间暴露时形成Co2W型L相,从而使合金的室温塑性下降,因此合金中的硅含量应控制小于0.4%。GH605化
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产品名称:C14(1-十四烯)【英文名称】1-TetradeceneCASno:1120-36-1【分子式】CH3-(CH2)11-CH=CH2【相对分子量】196.4应用本产品可用来生产各种马来酸酐共聚合物.本产品作为新型造纸施胶剂.本产品用作生...
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一、环氧树脂涂塑钢管的特点1️耐腐蚀性强:环氧树脂具有良好的耐酸、碱、盐等化学介质的性能,能够有效阻止腐蚀介质对钢管的侵蚀。2️耐磨性好:环氧树脂涂层具有很高的硬度,能有效抵抗磨损和划伤,延长...
泄漏。3、噪音低:两个低噪音轴承支撑下的水泵,运转平稳,除电机微弱声响,基本无噪音。4、故障率低:结构简单合理,关键部分采用;配套,整机没故障工作时间有效提高。5、维修方便:更换密封、轴承,简易方便。
晶体管特性测试仪IV曲线图示仪概述:SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。基于模块化的体系结构设计,SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。详询18140663476;产品特点:30μV-1200V;1pA-100A宽量程测试能力;测量精度高,全量程下可达0.03%精度;内置标准器件测试程序,直接调用测试简便;自动实时参数提取,数据绘图、分析函数;在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;免费提供上位机软件及SCPI指令集;典型应用:纳米、柔性等材料特性分析;二极管;MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;第三代半导体材料/器件;有机OFET器件;LED、OLED、光电器件;半导体电阻式等传感器;EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管;电阻率系数和霍尔效应测量;太阳能电池;非易失性存储设备;失效分析;系统技术规格订货信息模块化构成:低压直流I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选-小电流分辨率10pA-四象限工作区间-支持二线,四线制测试模式-支持GUARD保护低压脉冲I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流、脉冲工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选,Z大脉冲电流10A或30A可选-小电流分辨率1pA-小脉宽200μs-四象限工作区间.-支持二线,四线制测试模式-支持GUARD保护高压I-V源测量单元-精度0.1%-Z大电压1200V,Z大直流100mA-小电流分辨率100pA-一、三象限工作区间-支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护高流I-V源测量单元-精度0.1%-直流、脉冲工作模式.-Z大电压100V,Z大直流30A,Z大脉冲电流100A-小电流分辨率10pA-小脉宽80μs-四象限工作区间支持二线、四线制测试模式-支持GUARD保护电压电容C-V测量单元-基本精度0.5%-测试频率10hZ~1MHz,可选配至10MHz-支持高压DC偏置,Z大偏置电压1200V-多功能AC性能测试,C-V、C-f、C-t硬件指标-IV测试半导体材料以及器件的参数表征,往往包括电特性参数测试。绝大多数半导体材料以及器件的参数测试,都包括电流-电压(I-V)测量。源测量单元(SMU),具有四象限,多量程,支持四线测量等功能,可用于输出与检测高精度、微弱电信号,是半导体|-V特性测试的重要工具之-。SPA-6100配置有多种不同规格的SMU,如低压直流SMU,低压脉冲SMU,大电流SMU。用户可根据测试需求灵活配置不同规格,以及不同数量的搭配,实现测试测试效率与开支的平衡。灵活可定制化的夹具方案针对市面上不同封装类型的半导体器件产品,普赛斯提供整套夹具解决方案。夹具具有低阻抗、安装简单、种类丰富等特点,可用于二极管、三极管、场效应晶体管、IGBT、SiCMOS、GaN等单管,模组类产品的测试;也可与探针台连接,实现晶圆级芯片测试。探针台连接示意图
液体和气体介质的泄露。在某些情况下,O型密封圈还能用做轴向往复运动和低速旋转运动的动态密封元件。其结构简单,安装方便,成本低,易维修,材质多样。可作为油,水,气体等各种各样流体的密封使用。根据不同的条
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