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  • 湖北龙康批量供应塑料检查井-流槽三通/四通-沉泥起始-弯头等
  • 产品卖点:一次性注塑成型、使用寿命长、安装方便,密封性能好,防渗漏防污染,环保节能。产品特性:塑料检查井的井座部分大多采用的是一次性注塑成型,以异径接头、变角接头和橡胶密封圈等配件来达到改变管径及角度的连接。塑料检查井配套开发了井盖、井筒和相关配件,路面载荷通过井盖、井座作用于检查井周围,避免了路面载荷对检查井的破坏。井座具有上下浮动的功能,可主动适应路面的高低变化,同时井筒采用专用井筒,可根据现场埋设深度截取相应长度,灵活方便。井筒、进(出)水管道与井座的连接采用橡胶密封圈柔性承插式连接或者是热收缩套连接,可适应小范围内的角度变化,施工方便快捷,密封性能好、防渗漏,有效防止对地下水的次污染,是一种环保节能建材。塑料检查井按用途可分雨水塑料检查井和污水塑料检查井,应用领域分为建筑小区排水用塑料检查井和市政排水用塑料检查井。塑料一体注塑检查井是指构成检查井的主要井座部分采用一次性注塑成型,井筒插口采用360度环型承载平台,井身及井座底部采用网状加强筋,各承插口采用环型加强筋设计。根据接管数和角度不同有起始井座、直通井座、45度弯头井座、三通井座、四通井座等。为了适应各种排水状况,塑料检查井同时配套有变径接头、汇流接头、井筒多接头等与之配套的塑料一体注塑成型配件。以保障整个排水系统的流畅和密封性。检查井由井座、井筒、井盖和相关配件等组成,用以清通、检查井的井状构筑物。检查井是为城市地下基础设施的供电、给水、排水、排污、通讯、有线电视、煤气管、路灯线路等维修,安装方便而设置的。一般设在管道交汇处、转弯处、管径或坡度改变处、以及直线管段上每隔一段距离处,是便于定期检查附属构筑物。检查井是用在建筑小区(居住区、公共建筑区、厂区等)范围内埋地塑料排水管道外径不大于800mm、埋设深度不大于6m,一般设在排水管道交汇处、转弯处、管径或坡度改变处、跌水处等,为了便于定期检查、清洁和疏通或下井操作检查用的塑料一体注塑而成或者砖砌成的井状构筑物。检查井相对其它材料的检查井来说因原材料价格高,加上设备、模具厂房生产化,所以价格就会较高,但以使用寿命来说,塑胶检查井具有使用寿命长、安装方便快捷等优点,砖砌检查井寿命为10年,钢筋混凝土检查井寿命为30年,而塑胶检查井可达到50年,由于塑胶检查井密封性好,不易渗漏,因此后期维护成本就会低于其它类型的检查井,综合成本相对就会远远低于其它检查井。规格:Φ200Φ315Φ450Φ630Φ700Φ1000Φ1200

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  • 晶体管特性测试仪IV曲线图示仪
  • 晶体管特性测试仪IV曲线图示仪概述:SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。基于模块化的体系结构设计,SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量,同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。详询18140663476;产品特点:30μV-1200V;1pA-100A宽量程测试能力;测量精度高,全量程下可达0.03%精度;内置标准器件测试程序,直接调用测试简便;自动实时参数提取,数据绘图、分析函数;在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线;提供灵活的夹具定制方案,兼容性强;免费提供上位机软件及SCPI指令集;典型应用:纳米、柔性等材料特性分析;极管;MOSFET、BJT、晶体管、IGBT;第三代半导体材料/器件;有机OFET器件;LED、OLED、光电器件;半导体电阻式等传感器;EEL、VCSEL、PD、APD等激光极管;电阻率系数和霍尔效应测量;太阳能电池;非易失性存储设备;失效分析;系统技术规格订货信息模块化构成:低压直流I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选-小电流分辨率10pA-四象限工作区间-支持线,四线制测试模式-支持GUARD保护低压脉冲I-V源测量单元-精度0.1%或0.03%可选-直流、脉冲工作模式-Z大电压300V,Z大直流1A或3A可选,Z大脉冲电流10A或30A可选-小电流分辨率1pA-小脉宽200μs-四象限工作区间.-支持线,四线制测试模式-支持GUARD保护高压I-V源测量单元-精度0.1%-Z大电压1200V,Z大直流100mA-小电流分辨率100pA-一、三象限工作区间-支持线、四线制测试模式-支持GUARD保护高流I-V源测量单元-精度0.1%-直流、脉冲工作模式.-Z大电压100V,Z大直流30A,Z大脉冲电流100A-小电流分辨率10pA-小脉宽80μs-四象限工作区间支持线、四线制测试模式-支持GUARD保护电压电容C-V测量单元-基本精度0.5%-测试频率10hZ~1MHz,可选配至10MHz-支持高压DC偏置,Z大偏置电压1200V-多功能AC性能测试,C-V、C-f、C-t硬件指标-IV测试半导体材料以及器件的参数表征,往往包括电特性参数测试。绝大多数半导体材料以及器件的参数测试,都包括电流-电压(I-V)测量。源测量单元(SMU),具有四象限,多量程,支持四线测量等功能,可用于输出与检测高精度、微弱电信号,是半导体|-V特性测试的重要工具之-。SPA-6100配置有多种不同规格的SMU,如低压直流SMU,低压脉冲SMU,大电流SMU。用户可根据测试需求灵活配置不同规格,以及不同数量的搭配,实现测试测试效率与开支的平衡。灵活可定制化的夹具方案针对市面上不同封装类型的半导体器件产品,普赛斯提供整套夹具解决方案。夹具具有低阻抗、安装简单、种类丰富等特点,可用于极管、三极管、场效应晶体管、IGBT、SiCMOS、GaN等单管,模组类产品的测试;也可与探针台连接,实现晶圆级芯片测试。探针台连接示意图

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